ミリ波材料計測システム -EMMS-
ミリ波材料計測システム -EMMS-
低コスト構成を追究した材料計測(複素誘電率、S11/S21計測)システム
構成使用技術は従来の電気的手法を使用。独自の信号処理技術と自社ブランドのアップ/ダウンコンバーターを採用して低コストにカスタマイズした商品となります。
目的の周波数を選択してセットアップ。
図は自由空間法による計測イメージですが、ケーブルや導波管のSパラメータ計測にもご利用いただけます。
VSPSは2ポートVNAの代替機能があります。
本製品は、独自の誘電体プローブDCP(Dielectric Cuboid Probe)を採用しています。
DCPの先よりフォトニックジェットを発生
特長:自由空間光学系(レンズや放物面鏡)が不要
プローブ近傍に平面波を生成可能
回折限界程度の幅のスポットを形成可能
そのため、計測環境がコンパクトになり、また小サイズのサンプルを評価することが可能です。(平面波のため厚み方向も対応可)
※DCPは岐阜大学が開発した特許技術です。
本製品の特長
・周波数対応:1GHz ~ 110GHz
・低コストを実現する3要素
1)周波数帯を選択式(アップ・ダウンコンバーターの段替えで周波数拡張・変更も可能)
2)独自のベクトル信号処理システム(VSPS:Vector Signal Processing System)で構成するため、市販のVNA(Vector Network Analyzer)が不要
3)ミリ波帯に対応する、自社ブランドによるRF機器をベースとしたアップ・ダウンコンバーターを採用(市販のエクステンダーが不要)
・自社S/W:S11/S21計測、複素誘電率解析、周波数掃引(ステップ)機能、校正機能、マルチパス処理(タイムゲート処理)機能
左表から、用途に応じた周波数を選択してください。複数を選択する(段替え構成にする)ことも可能です。
表の黄色で示した周波数帯は、自社ブランドのRF機器をベースにしたアップ・ダウンコンバーターを採用しますので、より低コストに構成することが可能です(お薦めです)。
左図は、76GHzにて、材料が異なる樹脂サンプル3種のS11とS21を計測した結果を示しています。また、従来技術である、VNAと自由空間法を組合わせたシステムで計測した結果も併せてプロットしています。
従来技術と良く一致した結果を得られており、正しく計測ができていることがわかります。
独自のベクトル信号処理システム(VSPS)とアップ・ダウンコンバーターによって対象ミリ波の振幅と位相情報の取得が可能です。
そのため、計測環境を段替えすることによって、アンテナ計測も可能となります。
アンテナ計測も材料計測も一体での導入をご希望される方向けに、一体型の構成(セットアップ)を検討することも可能です。
アンテナ計測システム(Co-EAMS)(リンク有)をご参照ください。
応用事例の一つとして、受信部を任意の場所に移動させることで、例えば斜め反射を計測することができます。
弊社の自由空間電波環境は、従来のアンテナーレンズの構成が不要です。光学技術に基づく独自の電波制御によって、空間を簡素にすることが可能なため、従来でアプローチできなかった計測ポイントに設置することができます。
また、誘電透過材料の斜め入射時の透過率、反射率についても理論計算が可能です。
参考価格:70 ~ 85GHz(ミリ波レーダー対応)のシステムの場合1,480万円~
※2024年度限定価格、25年4月以降に予期無く価格変更をすることがあります。
※当価格には、光学定盤、電波吸収体、シールドルームなどの測定環境に係るもの、及び、校正キットの価格は含まれていません
材料計測は、システム販売以外にも、受託計測もお受けいたしております。