当社独自のEOセンサプローブを用いて、DUT(被測定対象サンプル)の透過場、反射場(散乱場)を直接測定をします。
EOセンサプローブは誘電材料のみで構成されるため(金属レスのため)、電場に対して超低侵襲で測定することが可能です。電磁界シミュレーションでは解けない問題や、シミュレーションでの再現が難しい場合、など、実際に電波がどのような振る舞いをするか計測によって確認することが可能です。
また、下記以外にも、当社の計測機器用いて様々な計測、例えば、ビームチルト特性、マルチパス特性、といった、レーダー特有の特性評価も実施することが可能です。お困り事があればお問い合わせください。
EOセンサプローブの素子には、EO結晶(非線形光学結晶)を用います。
金属を含まず、また、光ファイバー型プローブ(小型)のため、超低侵襲な測定が可能であり、数百GHzの周波数まで低侵襲測定が可能です。
EOセンサプローブがアクセスできる場所であれば測定が可能です。例えば、透過部品の透過場だけでなく、反射場を直接測定することができます。
エンブレムやバンパーなどのミリ波透過部材向けの評価・計測です。
装置製造、受託計測、などお客様の開発段階に応じて提供可能です。また、技術的な相談(何を評価すべきか)からご対応いたします。
電波吸収体やメタサーフェスなどの反射板、遮蔽材などの部品や材料向けの評価・計測です。
装置製造、受託計測、などお客様の開発段階に応じて提供可能です。また、技術的な相談(何を評価すべきか)からご対応いたします。